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热球式风速仪/风速计/指针式风速仪(0.05-10m/s )

热球式风速仪/风速计/指针式风速仪(0.05-10m/s )


1.热球式风速仪/风速计/指针式风速仪(0.05-10m/s ) 型号:BJJ/QDF-2A

是一种便携式、智能化的低风速测量仪表,在测量管道环境及采暖、空调制冷、环境保护、节能监测、气象、农业、冷藏、干燥、劳动卫生调查、洁净车间、化纤纺织,各种风速实验等方面有广泛用途。

技术指标
测量范围 0.05-10m/s
(温 度/湿度)使用条件 -10-40℃,不大于85%

误差:±4%U

分辩率:0.01m/s

电池寿命>20h

重 量:2.5kg












2.电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/电阻测试仪 型号:HHY8-DB-4

HHY8-DB-4电线电缆半导电橡塑电阻测试仪是根据标准GB3048.3—94研究成功的测量设备,主要用于测量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻,若换上特殊的四端子测试夹,还可以对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量

经过了十多年的实际运行,近百家主要电缆厂和生产半导电屏蔽材料厂均已采用了该仪器,它是目前符合标准GB3048.3-94的测量半导电橡塑材料电阻率的仪器。

   仪器为台式结构,主要由电气箱、测试架两大部分组成,固定在专用工作台上,电气箱包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源,测量结果采用LED数字直接显示,测量电流输出也采用LED数字显示,从0—100mA范围内可任意调节,可达到控制测试功率损耗的规定,仪器测试架由电、压力探头、样品台及电动传动机构组成,操作按键电钮,可进行半自动测量。

   仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合和标准的要求。

   仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门,对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测,是必需的测试设备。

   仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:10-4--103Ω-cm可扩展到105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

二、 数字电压表:

1  量程0.2mV2 mV20 mV200 mV2V

2  测量误差  0.2mA±(0.5%读数+8)2mV—2V±(0.5%读数+2)

3  显示3 1/2 位数字显示0—1999具有性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1  电流输出:直流电流0—100mA连续可调,由交流电源供给,数字显示

2  量程:10μA100μA1mA10mA100mA

3  电流误差:±(0.5%读数+2)

四、 测量电:

1  电流电:宽度50mm,与试样的接触宽度5mm,两个电流电间的距离110mm

2  电位电:宽度50mm,接触半径,两个电位电间的距离20mm±2%

  五、电源:220±10%   50HZ60HZ 功率消耗<50W

六、外形尺寸(包括测试工作台)1200×600×1050mm(长×宽×高)











3.二探针单晶硅及多晶硅测试仪 型号:HHY8-GL-1

本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况,以便硅材料的切割和加工。

    为适应大规模集成电路的迅猛发展,特别是计算机芯片、内存的发展,越来越多的使用到了大直径、高纯度、均匀度更高的单晶硅材料。目前,在美国、德国等的工业,均采用了二探针法,使用二探针检测仪来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。

仪器符合美国ASTM “F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准,是一种的半导体电阻率测试仪,适合半导体材料厂和器件厂用于二探针法测量单晶硅和多晶硅半导体棒状材料的体电阻率,从而进一步判断半导体材料的性能,指导和监视工艺操作,也可以用来测量金属材料的电阻,仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便、造型美观等特点。也可以配四探针测试头作常规的四探针法测量硅晶体材料。

    仪器分为仪表电气控制箱、测试台、探头三部分,仪表电气控制箱由高灵敏度直流数字电压表、高抗干扰高隔离性能的电源变换装置、高稳定恒流源和电气控制部分组成。测量结果由大型LED数字显示,零位稳定、输入阻抗高,并设有自校功能。在棒状材料使用二探针法测试时,具有系数修正功能,从面板输入相应的修正系数,可以直接读出电阻率,使用方便。测试台结构新颖,造型美观,可以方便地固定好大小任意尺寸的样品,并可以作逐点选择步进测量,也可以自由选择固定位置测量,电活动自如,具备锁定装置,方便重复测量。另外还配置了二处记录板和转椅,测试探头能自动升降,探针为碳化钨材料,配置宝石轴承,具有测量精度高、游移率小、耐磨、使用寿命长特点。同时探头压力恒定并且可调整,以适合不同的材料。

仪器主要技术指标:

1.可测硅材料尺寸:

     直径Φ25~Φ150mm满足ASTM F-397的技术要求。

     长度:100~1100mm.

2.测量方式:轴向测量,每隔10mm测量一点。

3.测量电阻率范围:10-3~103Ω-cm,可扩展到105Ω-cm

4.数字电压表:

    1)量    程:0.2mV2mV20mV200mV2V

    2)测量误差:±0.3%读数±2

    3)输入阻抗:0.2mV2mV>106Ω

                  20mV档及以上>108Ω

    4)显    示:31/2LED数字显示,范围0~1999

5.恒流源:

    1)电流输出:直流电流0~100mA连续可调。

    2)量    程:10μA100μA1mA10mA100mA

    3)电流误差:±0.3%读数±2

6.二探针测试装置:

    1)探针间距:4.77mm

    2)探针机械游移率:0.3%

    3)探针压力:0~2kg可调

    4)测试探头自动升降

7.二探针测试台

    1)测试硅单长度:100-1100mm

    2)测试点间距:10mm

    3)测试台有慢、快二种移动速度,快速移动速度为1000mm/分(均匀

手动)

8.电源:交流220V±10%50HZ±2HZ,消耗功率<150W








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